IEC新增滤波器资料透过率规范三安计划推进全球产业链工艺改造

　　世界电工委员会（IEC）正式对外发布了《声表面波器材用单晶晶片规范与测量方法》（IEC 62276:2025），初次清晰了压电资料的光学功用规范。三安滤波器晶体团队以在资料端的研制经历，在关于透过率（晶片黑化程度）的有关技能要求和相应测量方法中做出重要贡献。

　　跟着5G通讯和物联网终端向高频化、微型化加快开展，声表面波（SAW）滤波器作为射频前端的中心组件，承担着信号选频的要害功用。据Yole Dveloppement猜测，到2026年，全球声表面波滤波器市场规模将达55亿美元。智能终端对滤波器数量和功用的需求激增，推进资料技能向更高一致性、更优光学功用演进。

　　2025年3月7日，世界电工委员会（IEC）正式发布《声表面波器材用单晶晶片规范与测量方法》（IEC 62276:2025），初次将压电资料的光学功用（透过率/黑化程度）归入世界规范。该规范由中国企业主导修订，标志着我国在高端压电资料范畴实现从技能跟随到规矩拟定的跨过。

　　泉州三安集成（原晶安光电团队）依托三安光电二十余年的化合物半导体研制制作经历，继续投入LN/LT压电资料制备工艺的研制，逐渐把握老练的晶片黑化工艺。团队自2016年深度参加该项意图规范证明，在透过率的相关技能方面的要求和相应测量方法与项目其他成员协作，讨论及验证实验，提出了多项技能性修正内容，归入了新规范中首要的修订内容之一。

　　三安具有国内罕见的滤波器笔直整合产业链，构建射频前端芯片整合解决计划制作渠道，继续加强工艺和资料的研制投入，活跃投身职业规范的拟定和提高，促进职业协同开展和产品品质衡量原则提高，为全球头部射频规划公司供给较为牢靠的芯片制作服务。